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詳細摘要： 該設備主要用于常和彈殼，它允許兩個樣品并排安裝，以便進行詳細的比較。每個樣品可以獨立旋轉360度，并調整其相對高度。

詳細摘要： 英國Deben出品的PCD型束閘是設計用來為JEOL和Hitachi的FEG場發(fā)射、LaB6六硼化鑭和鎢燈絲掃描電鏡提供電子束的消隱（阻斷、開關）、脈沖或其他調...

詳細摘要： 半導體制冷冷臺

詳細摘要： 英國Deben 出品的視頻腔室觀察鏡可用于所有掃描電鏡，安裝在電鏡腔室任意端口的空法蘭上或腔室門上。作為一個標準組合，腔室觀察鏡帶有獨立的電源裝置并包含照明控制...

詳細摘要： Deben可以提供一系列不同臺子用于雙軸和四軸拉伸試驗。無論您有什么樣的需求，Deben都有一個適合您應用的解決方案，我們有一個標準2kN的臺子，并可以定制從5...

詳細摘要： EBIC掃描電鏡電子束感生電流放大器及成像系統(tǒng)

詳細摘要： STEM掃描透射探測器、BSE背散射探測器、CL陰極熒光探測器

詳細摘要： MICROTEST三點彎曲和拉伸/壓縮模塊專門設計用于在掃描電鏡或光學顯微鏡下觀察樣品的高應力區(qū)。

詳細摘要： 雙絲桿工作臺的設計允許透射和反射照明兩種，可安裝在光學顯微鏡、X射線衍射系統(tǒng)或同步加速器上。

詳細摘要： 2kN和5kN拉伸臺測試模塊為特殊設計，可以用SEM、光學顯微鏡、AFM或XRD系統(tǒng)實時觀察樣品的高應力區(qū)域。Windows 7.0/10軟件設置驅動器參數(shù)，并...

詳細摘要： 用于μXCT斷層成像系統(tǒng)的DEBEN帕爾貼冷熱臺允許在冷凍條件下對樣品進行成像，雙層聚苯乙烯（可選碳）窗可防止結冰，并可將樣品快速冷卻至-20°C

詳細摘要： Deben最近開發(fā)了一種新的2KN拉伸臺，可選擇加熱至600°C的加熱裝置，專門用于裝有EBSD探測器的掃描電鏡內。該臺有雙樣品夾具，允許樣品在0°和70°下觀...

詳細摘要： CT20K，全開放式框架，拉伸、壓縮和扭轉試驗臺，專為同步加速器和基于房間的X射線CT成像系統(tǒng)設計

詳細摘要： CT500原位測試臺用途廣泛，適應性強，重量小于1.0kg，適用于安裝在見的中程μXCT系統(tǒng)（如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia Versa和GE...

詳細摘要： CT5000原位測試臺用途廣泛，適應性強，重量小于6.0kg，適用于安裝在見的中程μXCT系統(tǒng)，如Nikon XTH-225、蔡司/Xradia Versa和G...

詳細摘要： 200N原位拉伸臺MICROTEST200N模塊經過特別設計，可以通過掃描電鏡、光學顯微鏡、原子力顯微鏡或XRD系統(tǒng)實時觀察樣品的高應力區(qū)。